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ATA-2161高壓放大器基于單端接觸原理的LED外延片無損檢測的應(yīng)用

Aigtek安泰電子 ? 2024-10-25 10:29 ? 次閱讀

實驗名稱:基于單端接觸原理的LED外延片無損檢測

實驗內(nèi)容:基于單注入模式,使用新型檢測系統(tǒng)獲取LED外延片的電學參數(shù)光學參數(shù)。

研究方向:LED外延片檢測

測試設(shè)備:光譜儀、函數(shù)信號發(fā)生器、ATA-2161高壓放大器、顯微鏡及成像系統(tǒng)、示波器電腦等。

實驗過程:

實驗裝置原理圖

圖1:實驗裝置原理圖

首先對LED外延片進行光致發(fā)光(PL)測試,通過光譜儀獲取峰值波長。然后,將測試設(shè)備按圖1所示連接完畢后,將待測LED外延片放置在ITO玻璃上,緩慢下降探針,直至LED外延片產(chǎn)生電致發(fā)光現(xiàn)象。通過光譜儀獲取峰值波長,示波器獲取電學參數(shù)。最后,使用傳統(tǒng)的電致發(fā)光(針測)對LED外延片進行測試。在保證光譜儀軟件顯示的相對強度在一致或接近時,獲取LED外延片的電學參數(shù)和光學參數(shù)。

實驗結(jié)果:

SC-EL所獲得的光學參數(shù)與針測所獲得的光學參數(shù)

圖2:SC-EL所獲得的光學參數(shù)與針測所獲得的光學參數(shù)

SC-EL所獲得的光學參數(shù)與針測所獲得的光學參數(shù)

圖3:SC-EL所獲得的光學參數(shù)與針測所獲得的光學參數(shù)

由于針測獲得的數(shù)據(jù)最具有可靠性,因此將其作為標準值來比較PL測試與單端接觸電致發(fā)光(SC-EL)測試所獲得數(shù)據(jù)的準確性。實驗結(jié)果表明,SC-EL所獲得的光學參數(shù)與針測所獲得的光學參數(shù)更加接近并且不會對LED外延片造成機械性損傷(如圖2、圖3所示)。此外,SC-EL所獲取的電學參數(shù)與針測所獲取的電學參數(shù)(反向漏電流)具有同樣的趨勢,可以反映針測所獲取數(shù)據(jù)的水平(如圖4所示)。

針測所獲取數(shù)據(jù)的水平

圖4:針測所獲取數(shù)據(jù)的水平

高壓放大器推薦:ATA-2161

ATA-2161高壓放大器指標參數(shù)

圖:ATA-2161高壓放大器指標參數(shù)

資料Aigtek安泰電子整理發(fā)布,更多案例及產(chǎn)品詳情請持續(xù)關(guān)注我們。西安安泰電子Aigtek已經(jīng)成為在業(yè)界擁有廣泛產(chǎn)品線,且具有相當規(guī)模的儀器設(shè)備供應(yīng)商,樣機都支持免費試用。如想了解更多功率放大器等產(chǎn)品,請持續(xù)關(guān)注安泰電子官網(wǎng)www.aigtek.com或撥打029-88865020。

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